液晶屏能夠顯示各種信息給人類，是現(xiàn)代電子技術(shù)、人工智能的重要基礎(chǔ)單位，是人機(jī)交互的重要通道，具有十分重要的價(jià)值。液晶屏中最新的是源矩陣有機(jī)發(fā)光二級(jí)面板顯示屏（amoled），因其特性受到了業(yè)界的廣泛關(guān)注，其中偏光片是它的重要組成部分。偏光片分別由保護(hù)膜、三醋酸纖維素膜（TAC）、聚乙烯醇膜（PVA）、離型膜和壓敏膠等結(jié)構(gòu)層組成。在生產(chǎn)過程中，將原材料的膜通過拉伸、擴(kuò)大等制作工藝，最終使偏光片整體透光效果均勻，從而為amoled的均勻發(fā)光效果提供保障。

偏光片是一種常見的偏振光學(xué)元件，應(yīng)用非常廣泛，在薄膜電晶體液體顯示器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD）型液晶顯示面板中，必有兩層偏振方向正交的偏光片。偏光片成品一般由 6 層微米級(jí)厚度的透明聚合物薄膜組成，其外觀缺陷可能出現(xiàn)在任何一層。一旦出現(xiàn)凸凹點(diǎn)、異物、氣泡、劃痕等外觀缺陷會(huì)直接降低顯示面板的質(zhì)量等級(jí)，甚至導(dǎo)致整個(gè)面板報(bào)廢，因此偏光片外觀缺陷檢測(cè)就變得尤為重要。

1、案例需求：薄膜溝槽深度測(cè)量

2、解決方案：

采用3D飛點(diǎn)分光干涉儀系列，采集薄膜劃痕狹縫數(shù)據(jù)，用GIVS 3D進(jìn)行檢測(cè)。

3、樣品特點(diǎn)

多層透明薄膜、溝槽橫向?qū)挾日?

4、測(cè)量條件

掃描點(diǎn)數(shù)：100×400

掃描范圍：0.3×1.2（mm）

5、軟件工具

平面校正、點(diǎn)云轉(zhuǎn)深度圖、高度測(cè)量等。

6、檢測(cè)方案

（1）點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集；

（2）進(jìn)行點(diǎn)云數(shù)據(jù)校正，將點(diǎn)云轉(zhuǎn)成深度圖；

（3）選擇測(cè)量區(qū)域，進(jìn)行高度測(cè)量。

3D飛點(diǎn)分光干涉儀是專業(yè)用于超高精度、鏡面高反光及透明材質(zhì)的納米級(jí)測(cè)量?jī)x。采用譜域白光干涉原理，實(shí)現(xiàn)300nm Z向絕對(duì)精度、30nm Z向重復(fù)精度，掃描幀率70kHz，最大直徑80mm，可適用于測(cè)量強(qiáng)反射、弱反射及透明物體等多種物體，分光模塊與光學(xué)振鏡模塊分離設(shè)計(jì)，加入光學(xué)振鏡掃描可替代昂貴的高精密位移臺(tái)。

產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶圓、金線、BGA、AR鏡片、精密接插件等亞微米級(jí)別的3D測(cè)量。

3D飛點(diǎn)分光干涉儀

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公司重點(diǎn)在工業(yè)機(jī)器視覺、在線實(shí)時(shí)三維重建、高精度視覺測(cè)量和大數(shù)據(jù)智能分析技術(shù)等方向上開展平臺(tái)級(jí)、應(yīng)用級(jí)的軟硬件產(chǎn)品開發(fā)，重點(diǎn)突破行業(yè)技術(shù)難點(diǎn)。著眼于工業(yè)機(jī)器視覺、智能制造、大數(shù)據(jù)醫(yī)療、云計(jì)算、人工智能產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展趨勢(shì)以及長(zhǎng)三角產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)、平臺(tái)建設(shè)、成果轉(zhuǎn)化及產(chǎn)業(yè)化等一系列工作，為中國(guó)高端智能制造提供基礎(chǔ)技術(shù)平臺(tái)和軟硬件一體化解決方案。